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芯片PCT老化試驗箱簡(jiǎn)介：適合電子、電器、車(chē)輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。專(zhuān)業(yè)模擬檢測設備的企業(yè)，生產(chǎn)歷史長(cháng)、技術(shù)精。為國內多家品牌測試設備廠(chǎng)所配套使用,建廠(chǎng)三十余年,備受好評。
芯片PCT老化試驗箱 壹叁伍 叁捌肆陸 玖零柒陸試驗方法主要分成兩種類(lèi)型：即PCT和USPCT(HAST、現在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC(電工委員會(huì ))所標準化。
PCT老化試驗箱安全裝置：
1、鍋內安全裝置：鍋門(mén)若未關(guān)緊則機器無(wú)法啟動(dòng)。
2、安全閥：當鍋內壓力超過(guò)大工作值自動(dòng)排氣泄壓。
3、雙重過(guò)熱保護裝置：當鍋內溫度過(guò)高時(shí)，機器嗚叫警
4、報并自動(dòng)切斷加熱電源。
5、門(mén)蓋保護：ABS材質(zhì)制成可防止操作人員接觸燙傷。
PCT老化試驗箱試驗：
1、試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等)，加快試驗過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統的壽命試驗時(shí)間。
2、用于調查分析何時(shí)出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問(wèn)題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗。
3、隨著(zhù)半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長(cháng)期的THB試驗而不會(huì )產(chǎn)生失效，因此用來(lái)確定成品質(zhì)量的測試時(shí)間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時(shí)間，采用了新的壓力試驗方法。
芯片PCT老化試驗箱簡(jiǎn)介：
適合電子、電器、車(chē)輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。專(zhuān)業(yè)模擬檢測設備的企業(yè)，生產(chǎn)歷史長(cháng)、技術(shù)精。為國內多家品牌測試設備廠(chǎng)所配套使用,建廠(chǎng)三十余年,備受好評。
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